模塊化測量系統 FISCHERSCOPE MMS PC2，搭載 Windows™ CE 操作系統，是適用于高精度涂鍍層厚度測量與材費希爾MMSPC進口電磁/電渦流測厚儀料測試的理想解決方案。具備通過 LAN 與 USB 連接實現聯網的功能，因此可以快速地集成至質量管理系統和自動化制造過程中。設備通過插卡實現模塊化設計，能實現與同名手持式儀器相同的功能。

菲希爾MP0/MP0R 電渦流測厚儀 ，小巧、方便且穩固 – MP0 和 MP0R 系列儀器能夠簡便、快速且無損地測量涂層厚度。配有兩個顯示屏、一個特別堅固的外殼和耐磨損的探頭，它們是可以直接用于現場可靠測量的理想設備。

菲希爾FMP100/150系列涂層測厚儀器，憑借 DUALSCOPE® FMP100 和 FMP150，FISCHEER可提供高性能手持式測量儀器，用于專業涂鍍層厚度測量中各種要求嚴苛的任務。這些儀器配備觸摸屏和 Windows™ CE 操作系統，操作快速且直觀。更大的系統內存意味著您可以執行數千個測量任務。具有各種統計與分析功能，可用于處理結果。

菲希爾FMP10-40 系列涂鍍層厚度測量儀，FMP10—FMP40 系列手持式涂鍍層厚度測量設備可提供精確的測量結果，多種測量技術使其具有高度的靈活性。包括采用磁感應測量 （DELTASCOPE®）、電渦流測量 （ISOSCOPE®） 或同時結合兩種方法 （DUALSCOPE®） 的多種型號。通過為這些儀器配備不同的探頭，您可以為幾乎所有測量任務快速創建相應的解決方案。

FISCHERSCOPE® UMP 20, 40 and 100 菲希爾UMP20、40、100、150 超聲測厚儀，Fischer的新產品UMP系列儀器為防腐行業測量壁厚提供了*的解決方案。 堅固耐用的，定制的模塑外殼和凸起的橡膠按鍵滿足 IP54 防護標準。 UMP系列超聲波測厚儀有多種型號，可滿足每一種預算和應用。 儀器有很簡單的升級方法（直接通過鍵盤）添加所需

菲希爾XAN500型便攜式X射線熒光鍍層測厚儀，Fischerscope X-RAY XAN500 是一款可移動使用并且應用廣泛的能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，它特別適用于鍍層厚度的無損測量及材料分析。適用于客戶進行質量控制、進料檢驗和生產流程監控。

菲希爾XULM系列X射線熒光鍍層測厚儀 菲希爾XULM系列 X射線熒光鍍層測厚儀，FISCHERSCOPE X-RAY XULM 系列是性能、設計緊湊、應用廣泛的X射線熒光鍍層及材料分析儀。常用于無損測量細小工件上的鍍層厚度和材料分析。特別適合在質量管控、來料檢驗及生產過程控制中測量使用。

菲希爾XDLM系列 X射線熒光鍍層測厚儀，FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。這款儀器專門是為測量超薄鍍層和微含量而設計，是用于質量控制，質量檢驗和生產監控的合適的測量儀器。

菲希爾XDV-u X射線熒光鍍層測厚儀，X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，*多毛細孔X 射線光學系統設計，可自動測量和分析微小部件及結構上鍍層厚度和成分。

菲希爾XDV-SDD X射線熒光鍍層測厚儀，X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀，配有可編程運行的 X/Y 軸工作臺和 Z 軸升降臺，用于自動測量超薄鍍層厚度或進行痕量分析，FISCHERSCOPE® X-RAY XDV-SDD®是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它特別適用于測量和分析超薄鍍層以及經行痕量分析。其配備了高精

XDLM-PCB 220 X射線熒光鍍層測厚儀 X射線熒光鍍層測厚儀，FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是專為測量印制電路板上鍍層厚度及成分分析而設計的入門級、耐用型測量儀。 微聚焦X射線管配合比例接收器能夠產生高計數率信號，以此造就了高精度的測量。出色的準確性及長期的穩定性是FISCHER X射線儀器的共有特點，因此也大大減少了重新校準儀器的需要，為您節省時間和精

菲希爾XDL系列X射線熒光鍍層測厚儀，FISCHERSCOPE X-RAY XDL 系列是應用廣泛的能量色散型X射線鍍層測厚及材料分析儀。它是由大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B型儀器上發展而來的。與上一代相類似，它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能全自動檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。