太陽能膜厚納米厚度測量儀自動化薄膜厚度繪圖系統Filmetrics F50 系列的產品能以每秒測繪兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度。一個電動R-Theta 平臺可接受標準和客制化夾盤，樣品直徑可達450毫米。（耐用的平臺在我們的量產系統能夠執行數百萬次的量測!）測繪圖案可以是極座標、矩形或線性的，您也可以創造自己的測繪方法，并且不受測量點數量的限制。內建數十種預定義的測繪圖案。

生物醫療薄膜納米厚度測量儀依靠 F60光學膜厚測量儀 先進的光譜測量系統，可以很簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。采用 r-θ 極坐標移動平臺，可以非?？焖俚亩ㄎ凰铚y試的點并測試厚度，測試非?？焖?，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖

光學薄膜納米厚度測量儀操作簡單且高性價比的減反射與硬涂層檢測Filmetrics F10-ARc使得自動測試眼科涂層變得又快又簡便?，F在，不論生產線操作人員還是研發技術人員都能在幾秒鐘內檢測和記錄涂層情況。多重光譜比較目標光譜與多重反射光譜比較–自動評估反射率，小/大位置，并得出明確的讀數結論。量化殘余顏色殘余顏色可以用基本的色彩空間系統形象化的顯示。比如CIELAB 和 CIEXYZ。

生物膜層納米厚度測量儀經濟適用的反射式測試系統F3系統通過采集膜層的反射光譜曲線，進而分析薄膜厚度及光學常數，可選配F3型號的不同系列，來滿足不同的厚度和光學常數測試需求。其通用型號配置40,000小時適用壽命的光源及自動波長校準，大大增強了系統的穩定性。F3型號有四種波長范圍的系列，可以覆蓋光譜波長范圍從190納米至1700納米。 快速厚度測試升級厚度測試軟件升級許可后，厚度值將在測試數據結果中

薄膜納米厚度測量儀自動化薄膜厚度分布圖案系統依靠F54先進的光譜測量系統，可以很簡單快速地獲得大直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，可以非?？焖俚亩ㄎ凰铚y試的點并測試厚度，測試非?？焖?，大約每秒能測試兩點。系統中預設了許多極坐標形、方形和線性的圖形模式，也可以編輯自己需要的測試點。只需掌握基本電腦技術便可在幾分鐘內建立自己需要的圖形模式?？蓽y樣品膜層基本上所有光滑的

醫藥醫療設備鍍膜聚對二甲苯厚度測試儀器測量厚度從1nm到10mm的先進膜厚測量系統如果您正在尋找一款儀器，需要測量厚度、測量光學常數或者僅需要測量材料的反射率和穿透率，F20您值得擁有。僅僅幾分鐘內就可以安裝好，通過USB與電腦連接，測量數據結果不到一分鐘就能得到。由于其模塊化的特點，F20適用于各種各樣的應用： ? 測量厚度、折射率、反射率和穿透率。